單光子顯微鏡
單光子顯微鏡-固體缺陷、量子點、單分子
為了實現固體缺陷、量子點或單個分子的單光子成像,您需要花費多少時間編寫代碼、采集信號和分析數據?您是否希望擁有一臺設備,可以捕獲實驗設置中的所有信號并通過操作簡便的軟件分析處理?
Time Tagger系列不僅可以捕獲實驗中所有單光子信號,還可捕獲實驗設置中所有其他信號,如來自微波源、快速開關、脈沖模式發生器、壓電掃描儀的觸發信號。它讓您可以利用單一硬件設備和簡單的幾行代碼,就能輕松實現量子光學實驗的整個數據采集。
下圖展示的是一個圍繞Time Tagger 20搭建的多功能可擴展掃描熒光顯微成像系統。該系統不僅可用于測量光子的反聚束和熒光壽命,還可直接用來實現共聚焦顯微成像、電子自旋共振掃描、脈沖電子自旋共振以及這些實驗技術的任意組合。而且這一系統還可以被輕松擴展以實現STED、PALM/STORM等超分辨率熒光顯微成像。這種單光子顯微成像系統已被廣泛用于金剛石和碳化硅中的缺陷研究,用戶來自斯圖加特大學、慕尼黑大學、牛津大學和麻省理工學院等多家知名研究機構。
只需一臺Time Tagger,即可輕松收集所有信號、將您的實驗想法變成現實。