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光探測磁共振--單電荷動力學的量子自旋探測
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電子順磁共振
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利用實時控制提高NV色心測試
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霍爾效應
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OPM光泵浦磁強計
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傳感器的阻抗測量
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MEMS 陀螺儀
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基于MEMS的傳感器
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超導量子計算測量方案
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時域熱反射譜(TDTR)
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基于 NV 色心系綜的磁強測量
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微流控/單細胞檢測和分類
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掃描近場顯微術 (SNOM)
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開爾文探針力顯微鏡 (KPFM)
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泵浦-探測光譜
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深能級瞬態光譜檢測(DLTS)
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光致發光
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激光電壓探測和成像
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雙頻共振跟蹤 (DFRT-AFM)
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基于自旋的量子計算
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雙頻共振跟蹤 (DFRT-AFM)
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多頻原子力顯微鏡 (MF-AFM)
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原子力顯微鏡成像
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深能級瞬態光譜檢測(DLTS)
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光致發光
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激光電壓探測和成像
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熒光壽命成像
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光學鎖相環
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拉曼光譜
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光探測磁共振--單電荷動力學的量子自旋探測
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利用實時控制提高NV色心測試
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基于 NV 色心系綜的磁強測量
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利用鎖相放大器進行光致熱彈性光譜氣體傳感器實驗
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OPM光泵浦磁強計
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(現貨供應)國產品牌 MFLI-CN 低噪聲鎖相放大器
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(現貨供應)MFLI 低噪聲鎖相放大器
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(現貨供應)HF2LI 雙通道寬頻鎖相放大器
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UHFLI 600MHz 超高頻鎖相放大器
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GHFLI 1.8GHz 雙通道微波鎖相放大器
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SHFLI 8.5 GHz 雙通道微波鎖相放大器
鎖相放大器模塊
LIA-MV(D)-200系列鎖相放大器模塊
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(現貨)LIA-MV-150系列鎖相放大器模塊
鎖相放大器電路板
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信號平均器
UHF-BOX Boxcar 平均器
鎖相環
UHF-PID 四通道 PID/PLL 控制器選件
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HF2LI-PLL 雙鎖相環選件
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MF-PID 四通道 PID/PLL 控制器選件
PID反饋控制器
SHFLI-PID 四通道 PID/PLL 控制器選件
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GHF-PID 四通道 PID/PLL 控制器選件
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HF2LI-PID 四通道 PID 控制器選件
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單光子探測
時間相關單光子計數器(TCSPC)
(現貨供應)Time Tagger X 時間相關單光子計數器
|
(現貨供應)Time Tagger Ultra 時間相關單光子計數器
|
Time Tagger 20 八通道時間相關單光子計數器
單光子探測器
高性能硅單光子探測器(現貨供應)
|
近紅外光單光子探測模塊
|
可見光單光子SPAD探測器
|
ID230近紅外單光子探測器
|
ID Qube近紅外門控單光子探測器
|
ID Qube近紅外自由運行單光子探測器
超導納米線單光子探測器
Single Quantum Eos多通道超導納米線單光子探測器
光電接收器
FWPR-20系列飛瓦光電接收器
|
PWPR-2K系列皮瓦光電探測器
|
LCA-S-400K系列400KHz光電探測器
|
HCA-S-200M系列200MHz光電探測器
|
HCA-S-400M系列400MHz光電探測器
|
HSPR-X和HSA-X-S系列光電探測器
|
OE-200系列可變增益光電探測器
|
OE-300系列200MHz可變增益光電探測器
|
HBPR系列平衡式光接收器/光電探測器
時間相關單光子計數器(TCSPC)
(現貨供應)Time Tagger X 時間相關單光子計數器
|
(現貨供應)Time Tagger Ultra 時間相關單光子計數器
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Time Tagger 20 八通道時間相關單光子計數器
單光子探測器
高性能硅單光子探測器(現貨供應)
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近紅外光單光子探測模塊
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可見光單光子SPAD探測器
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ID230近紅外單光子探測器
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ID Qube近紅外門控單光子探測器
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ID Qube近紅外自由運行單光子探測器
超導納米線單光子探測器
Single Quantum Eos多通道超導納米線單光子探測器
光電接收器
FWPR-20系列飛瓦光電接收器
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PWPR-2K系列皮瓦光電探測器
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LCA-S-400K系列400KHz光電探測器
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HCA-S-200M系列200MHz光電探測器
|
HCA-S-400M系列400MHz光電探測器
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HSPR-X和HSA-X-S系列光電探測器
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OE-200系列可變增益光電探測器
|
OE-300系列200MHz可變增益光電探測器
|
HBPR系列平衡式光接收器/光電探測器
量子信號測控設備
量子位控制器
SHFSG 8.5GHz 微波任意波形發生器
|
HDAWG 750MHz 任意波形發生器
量子信號分析儀
UHFQA 600 MHz量子分析儀
|
SHFQA 8.5 GHz 量子分析儀
可編程量子系統控制器
PQSC 可編程量子系統控制器
量子測控一體機
SHFQC+ 8.5GHz 量子測控一體機
微波任意波形發生器與分析儀
Presto 微波任意波形發生器和分析儀
量子位控制器
SHFSG 8.5GHz 微波任意波形發生器
|
HDAWG 750MHz 任意波形發生器
量子信號分析儀
UHFQA 600 MHz量子分析儀
|
SHFQA 8.5 GHz 量子分析儀
可編程量子系統控制器
PQSC 可編程量子系統控制器
量子測控一體機
SHFQC+ 8.5GHz 量子測控一體機
微波任意波形發生器與分析儀
Presto 微波任意波形發生器和分析儀
信號放大器
電壓放大器
SP1004低噪聲差分電壓放大器
|
DHPVA系列100/200MHz可變增益電壓放大器
|
DLPVA 系列100KHz可變增益電壓放大器
|
HVA系列寬頻電壓放大器
|
HLVA-100對數放大器
|
ATA-5000系列前置放大器
|
ATA-1000系列寬帶放大器
電流放大器
LNHS SP983c低噪聲電流放大器
|
LCA系列超低噪聲電流放大器
|
DDPCA-300 可變增益超低噪聲電流放大器
|
(現貨供應)DHPCA-100 可變增益高速電流放大器
|
(現貨供應)DLPCA-200 可變增益低噪聲電流放大器
|
HCA系列高速電流放大器
高壓放大器
ATA-7000系列高壓放大器
|
ATA-2000系列高壓放大器
|
Falco Systems WMA高壓放大器
|
ATA-L系列功率放大器
|
ATA-M20高壓放大模塊
射頻放大器
HSA 系列 1.2-2.5GHz 高速放大器
|
DUPVA 系列 1KHz-1.2GHz 增益可調電壓放大器
電荷放大器
HQA-15M-10T 電荷放大器
功率放大器
ATA-4000系列高壓功率放大器
|
ATA-3000系列功率放大器
|
ATA-300系列功率放大器
|
ATA-100系列功率放大器
電壓放大器
SP1004低噪聲差分電壓放大器
|
DHPVA系列100/200MHz可變增益電壓放大器
|
DLPVA 系列100KHz可變增益電壓放大器
|
HVA系列寬頻電壓放大器
|
HLVA-100對數放大器
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ATA-5000系列前置放大器
|
ATA-1000系列寬帶放大器
電流放大器
LNHS SP983c低噪聲電流放大器
|
LCA系列超低噪聲電流放大器
|
DDPCA-300 可變增益超低噪聲電流放大器
|
(現貨供應)DHPCA-100 可變增益高速電流放大器
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(現貨供應)DLPCA-200 可變增益低噪聲電流放大器
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HCA系列高速電流放大器
高壓放大器
ATA-7000系列高壓放大器
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ATA-2000系列高壓放大器
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Falco Systems WMA高壓放大器
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ATA-L系列功率放大器
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ATA-M20高壓放大模塊
射頻放大器
HSA 系列 1.2-2.5GHz 高速放大器
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DUPVA 系列 1KHz-1.2GHz 增益可調電壓放大器
電荷放大器
HQA-15M-10T 電荷放大器
功率放大器
ATA-4000系列高壓功率放大器
|
ATA-3000系列功率放大器
|
ATA-300系列功率放大器
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ATA-100系列功率放大器
激光器
飛秒光纖激光器
雙波長超快光纖激光器JZUFL-DW-01
|
單波長超快光纖激光器JZUFL-FC-01
皮秒脈沖激光器
光纖耦合式皮秒脈沖激光器
飛秒光纖激光器
雙波長超快光纖激光器JZUFL-DW-01
|
單波長超快光纖激光器JZUFL-FC-01
皮秒脈沖激光器
光纖耦合式皮秒脈沖激光器
精密源
任意波形發生器
SHFSG+ 8.5GHz 任意波形發生器
|
HDAWG 750MHz 八通道任意波形發生器
精密電壓源
Basel多通道低噪聲精密電壓源
|
UM系列超高精度電壓源
|
BS/BSA系列多通道精密直流電壓源
精密電流源
MCS型八通道低噪聲電流源
|
MCS-LR型八通道低噪聲電流源
任意脈沖序列發生器
八通道Pulse Streamer 8/2 任意脈沖序列發生器
功率信號源
ATG-M60系列可控信號源模塊
|
ATG-3000系列功率信號源
|
ATG-2000系列功率信號源
|
ATG-300系列功率信號源
任意波形發生器
SHFSG+ 8.5GHz 任意波形發生器
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HDAWG 750MHz 八通道任意波形發生器
精密電壓源
Basel多通道低噪聲精密電壓源
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UM系列超高精度電壓源
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BS/BSA系列多通道精密直流電壓源
精密電流源
MCS型八通道低噪聲電流源
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MCS-LR型八通道低噪聲電流源
任意脈沖序列發生器
八通道Pulse Streamer 8/2 任意脈沖序列發生器
功率信號源
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ATG-3000系列功率信號源
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ATG-2000系列功率信號源
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ATG-300系列功率信號源
濾波器
低溫濾波器(MFT)
低溫濾波器(MFT)
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可堆疊緊湊型低溫濾波器
低溫濾波器(MFT)
低溫濾波器(MFT)
|
可堆疊緊湊型低溫濾波器
熒光壽命分析
FLIM 熒光壽命成像入門級套件
FLIM 熒光壽命成像入門級套件
FLIM 光纖耦合式皮秒脈沖激光器
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FLIM 單光子SPAD探測器
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FLIM 數據采集卡
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等離子表面處理設備
PlasmaX-Lab 全能型實驗等離子表面處理設備
交流阻抗測試儀
MFIA 阻抗分析儀(500kHz/5MHz)
薄膜面阻分析設備
非接觸式電阻率成像系統-?TF map 2530 series
在線監測系統
EddyCus? inline 在線面阻測量儀
等離子表面處理設備
PlasmaX-Lab 全能型實驗等離子表面處理設備
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MFIA 阻抗分析儀(500kHz/5MHz)
薄膜面阻分析設備
非接觸式電阻率成像系統-?TF map 2530 series
在線監測系統
EddyCus? inline 在線面阻測量儀
薄膜面阻分析設備
簡介
非接觸式電阻率成像系統- TF map 2530 series主要用于分析單層或多層光學薄膜的厚度,材料的N(折射率)、K(消光系數)、反射及透射率。
非接觸式電阻率成像系統-?TF map 2530 series
非接觸式電阻率成像系統-?TF...
EddyCus? map 2530系列在非接觸模式下自動測量大型樣品的薄層電阻,最大...
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